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書封 談美國現行專利標的適格性判準之爭議及其政策意涵
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談美國現行專利標的適格性判準之爭議及其政策意涵

作者
：
李森堙 (著)
出版社
：
財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
出版日期
：
2019
閱讀格式
：
PDF
書籍分類
：
社科 ; 學術書
學科分類
：
社會科學類
ISBN
：
9789576192647

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本文針對美國現行專利標的適格性判準之爭議進行討論與分析，並從三個面向切入討論，美國現行專利標的適格性判準是否有效地實踐其所被預設的政策價值，以及其所立基的政策價值是否適切等課題。
談美國現行專利標的適格性判準之爭議及其政策意涵

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